KezdőlapAlkalmazásokIpar és automatizálás
Mérnöki alkalmazások

Ipar és automatizálás — látórendszerek optikája és minőségellenőrzés

Ellenőrző kamera, lézeres szkenner, raktári LiDAR — minden ipari rendszer optimálisan tervezett optikát igényel.

Mérnöki kihívások a(z) ipar és automatizálás területén

Az ipari optikai rendszerek igényes körülmények között működnek — rezgések, szennyeződések, változó megvilágítás, és valós idejű működés a gyártósor nagy sebessége mellett. Ugyanakkor olyan pontosságot kell elérniük, amely emberi szemmel elérhetetlen — néhány mikrométeres hibák észlelése, mikrométeres pontosságú geometriai mérések, QR-kódok leolvasása nagyon alacsony kontrasztú anyagokon.

Az ilyen rendszerekhez való optika tervezése — a kamerához való lencse, a megvilágítás és a mérőrendszer geometriájának kiválasztása — szimulációt igénylő feladat. A TracePro lehetővé teszi a megvilágító rendszer (structured light, dark field, bright field, koaxiális) optimalizálását a hiba maximális kontrasztja szempontjából. Az OSLO lehetővé teszi egy megfelelő mélységélességű és felbontású objektív pontos tervezését. Az OptiSystem támogatja a robotikában és logisztikában használt LiDAR rendszerek és 3D szkennerek szimulációját.

Hogyan támogatja szoftverünk a tervezést?

TermékSzerep ezen a területen
TraceProMachine vision megvilágító rendszerek, structured light, ipari LiDAR, lézeres szkennerek
OSLOEllenőrző kamerák objektívjeinek, telecentrikus lencséknek, kollimáló rendszereknek tervezése
OptiSystemNagy hatótávolságú LiDAR rendszerek, TOF (Time-of-Flight), ipari 3D szkennerek
Alkalmazási példa

Alkalmazási példa: dark-field megvilágítás fémfelületi repedések detektálásához

A dark-field detektálás elve: a kis szögben beeső fény a kamerán kívülre verődik vissza (sötét háttér), míg a repedés szórja a fényt az objektívbe (fényes jel)
A dark-field detektálás elve: a kis szögben beeső fény a kamerán kívülre verődik vissza (sötét háttér), míg a repedés szórja a fényt az objektívbe (fényes jel)

Felületellenőrzési feltételezések

A projekt célja egy optikai rendszer kifejlesztése volt mikrorepedések és felületi hibák detektálására fémalkatrészeken vágási és ipari megmunkálási folyamatok után. A rendszernek néhány mikrométeres méretű sérüléseket kellett azonosítania erősen visszaverő fémfelület hátterén.

Dark-field megvilágítási rendszer tervezése

Sötétmezős megvilágítási konfigurációt alkalmaztak, amelyben a fény kis szögben esik a felületre az anyag síkjához képest. Ez a beállítás korlátozza a sima felületről történő közvetlen visszaverődést, és felerősíti a repedések, egyenetlenségek és mikrosérülések éleiről származó jelet.

Fényeloszlás szimulációja

A TracePro-ban modellezték a megvilágító rendszer geometriáját, a vizsgált alkatrész felületét és a fém visszaverő tulajdonságait. Különböző fénybeesési szögeket, LED-forrás pozíciókat és blende-konfigurációkat elemeztek, hogy maximális kontrasztot érjenek el a hiba és a háttér között.

Képkontraszt optimalizálása

Az elemzés kimutatta a megvilágítás geometriájának hatását a háttérzaj szintjére és a mikrorepedések láthatóságára. A megfelelő megvilágítási szög és forrásrendszer megválasztása lehetővé tette a hiba jel-háttér arányának növelését, javítva az automatikus detektálás hatékonyságát.

Terv ellenőrzése

A szimuláció lehetővé tette az optikai konfiguráció előkészítését az ellenőrző kamera prototípusának elkészítése előtt. Az ellenőrzött modell csökkentette a hardveres próbálkozások számát, és optimalizálta a LED-rendszert, a blendéket és az ellenőrző állomás geometriáját ipari alkalmazásokhoz.

Gyakran ismételt kérdések
Ipar és automatizálás

Támogatja a TracePro a 3D lézeres szkennerek modellezését (structured light, TOF)?

Igen. A TracePro modellezi mind a structured light rendszereket (fénycsíkos vetítők és kamera), mind a TOF (Time-of-Flight) érzékelőket — elemezve a lézernyaláb energiaeloszlását, az objektumokról való visszaverődést és a detektoron mért jelet.

Támogatja az OSLO telecentrikus lencsék tervezését machine vision-höz?

Igen. Az OSLO támogatja telecentrikus rendszerek (object-space telecentric, image-space telecentric és bi-telecentric) tervezését — amelyek szabványosak az ipari mérőrendszerekben.

Kompatibilisek az eszközök ipari szabványokkal (GigE Vision, GenICam)?

A szoftver optikatervezési eszköz — nem kamerainterfész. Az IES fotometriai fájlok és a szimulációs eredmények exportálhatók népszerű machine vision szimulátorokkal kompatibilis formátumokba.

Van speciális kihívása ezen a területen?

Mérnökünk 1 munkanapon belül válaszol, és tanácsot ad az eszközökkel és licencelési lehetőségekkel kapcsolatban.

Kérdés mérnökünktől

A(z) TracePro szoftvert keresi?

Igényeljen 14-30 napos próbaverziót, hogy teljes körű műszaki támogatással tesztelje a(z) TracePro terméket aktuális projektje során.

TracePro próbaverzió igénylése