Mérnöki kihívások a(z) ipar és automatizálás területén
Az ipari optikai rendszerek igényes körülmények között működnek — rezgések, szennyeződések, változó megvilágítás, és valós idejű működés a gyártósor nagy sebessége mellett. Ugyanakkor olyan pontosságot kell elérniük, amely emberi szemmel elérhetetlen — néhány mikrométeres hibák észlelése, mikrométeres pontosságú geometriai mérések, QR-kódok leolvasása nagyon alacsony kontrasztú anyagokon.
Az ilyen rendszerekhez való optika tervezése — a kamerához való lencse, a megvilágítás és a mérőrendszer geometriájának kiválasztása — szimulációt igénylő feladat. A TracePro lehetővé teszi a megvilágító rendszer (structured light, dark field, bright field, koaxiális) optimalizálását a hiba maximális kontrasztja szempontjából. Az OSLO lehetővé teszi egy megfelelő mélységélességű és felbontású objektív pontos tervezését. Az OptiSystem támogatja a robotikában és logisztikában használt LiDAR rendszerek és 3D szkennerek szimulációját.
Hogyan támogatja szoftverünk a tervezést?
Alkalmazási példa: dark-field megvilágítás fémfelületi repedések detektálásához
Felületellenőrzési feltételezések
A projekt célja egy optikai rendszer kifejlesztése volt mikrorepedések és felületi hibák detektálására fémalkatrészeken vágási és ipari megmunkálási folyamatok után. A rendszernek néhány mikrométeres méretű sérüléseket kellett azonosítania erősen visszaverő fémfelület hátterén.
Dark-field megvilágítási rendszer tervezése
Sötétmezős megvilágítási konfigurációt alkalmaztak, amelyben a fény kis szögben esik a felületre az anyag síkjához képest. Ez a beállítás korlátozza a sima felületről történő közvetlen visszaverődést, és felerősíti a repedések, egyenetlenségek és mikrosérülések éleiről származó jelet.
Fényeloszlás szimulációja
A TracePro-ban modellezték a megvilágító rendszer geometriáját, a vizsgált alkatrész felületét és a fém visszaverő tulajdonságait. Különböző fénybeesési szögeket, LED-forrás pozíciókat és blende-konfigurációkat elemeztek, hogy maximális kontrasztot érjenek el a hiba és a háttér között.
Képkontraszt optimalizálása
Az elemzés kimutatta a megvilágítás geometriájának hatását a háttérzaj szintjére és a mikrorepedések láthatóságára. A megfelelő megvilágítási szög és forrásrendszer megválasztása lehetővé tette a hiba jel-háttér arányának növelését, javítva az automatikus detektálás hatékonyságát.
Terv ellenőrzése
A szimuláció lehetővé tette az optikai konfiguráció előkészítését az ellenőrző kamera prototípusának elkészítése előtt. Az ellenőrzött modell csökkentette a hardveres próbálkozások számát, és optimalizálta a LED-rendszert, a blendéket és az ellenőrző állomás geometriáját ipari alkalmazásokhoz.
Gyakran ismételt kérdések
Ipar és automatizálás
Támogatja a TracePro a 3D lézeres szkennerek modellezését (structured light, TOF)?
Igen. A TracePro modellezi mind a structured light rendszereket (fénycsíkos vetítők és kamera), mind a TOF (Time-of-Flight) érzékelőket — elemezve a lézernyaláb energiaeloszlását, az objektumokról való visszaverődést és a detektoron mért jelet.
Támogatja az OSLO telecentrikus lencsék tervezését machine vision-höz?
Igen. Az OSLO támogatja telecentrikus rendszerek (object-space telecentric, image-space telecentric és bi-telecentric) tervezését — amelyek szabványosak az ipari mérőrendszerekben.
Kompatibilisek az eszközök ipari szabványokkal (GigE Vision, GenICam)?
A szoftver optikatervezési eszköz — nem kamerainterfész. Az IES fotometriai fájlok és a szimulációs eredmények exportálhatók népszerű machine vision szimulátorokkal kompatibilis formátumokba.
Van speciális kihívása ezen a területen?
Mérnökünk 1 munkanapon belül válaszol, és tanácsot ad az eszközökkel és licencelési lehetőségekkel kapcsolatban.
Kérdés mérnökünktőlA(z) TracePro szoftvert keresi?
Igényeljen 14-30 napos próbaverziót, hogy teljes körű műszaki támogatással tesztelje a(z) TracePro terméket aktuális projektje során.
TracePro próbaverzió igénylése
